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Challenges for Reliability Assessment of Semiconductor Devices: Wrong Expectations and Real Limitations

Veranstaltungsort:

Lehrstuhl für Technische Elektrophysik, Theresienstr. 90, Geb. N4, Raum N 1414, TUM Nordgelände

Vortragender

Dr. Werner Kanert, Infineon Technologies AG, München

Oberseminar "Elektrophysik und Physikalische Elektronik"

Veranstalter

Lehrstuhl für Technische Elektrophysik der TUM

Ansprechpartner

Frau Tülay Cakmak , Tel. 089-289-23121

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Technische Universität München