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Vortrag
Challenges for Reliability Assessment of Semiconductor Devices: Wrong Expectations and Real Limitations
Monday 09.07.2012, 09:15 - 11:00
Venue:
Lehrstuhl für Technische Elektrophysik, Theresienstr. 90, Geb. N4, Raum N 1414, TUM Nordgelände
Speaker
Dr. Werner Kanert, Infineon Technologies AG, München
Oberseminar "Elektrophysik und Physikalische Elektronik"
Organizer
Lehrstuhl für Technische Elektrophysik der TUM
Contact
Frau Tülay Cakmak , Tel. 089-289-23121
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