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"Stoßstromfestigkeit von 1200V SiC MPS-Dioden: Simulation und Experiment"

Veranstaltungsort:

Lehrstuhl für Technische Elektrophysik TU München Raum N1414 (Seminarraum) Nordgelände, Gebäude N4, 1. Obergeschoß Theresienstr. 90, 80333 München

Vortragender

Frau M. Sc. Susanne Fichtner Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik Technische Universität Chemnitz

Veranstalter

Lehrstuhl für Technische Elektrophysik TU München

Ansprechpartner

Anna-Lena Kersten, mailto:kersten@tep.ei.tum.de

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Technische Universität München