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Technische Universität München

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Sitemap > Veranstaltungen und Termine > "Multi-bit upset in 65nm CMOS SRAMs durch ionisierende Strahlung"

 Vortrag

"Multi-bit upset in 65nm CMOS SRAMs durch ionisierende Strahlung"

Montag 28.06.2010, 09:15 - 11:30



Veranstaltungsort:

Lehrstuhl für Technische Elektrophysik, Theresienstr. 90, Geb. N4, Raum N 1414, TUM Nordgelände 

Vortragender
Dr. Georg Georgakos, Infineon Technologies AG, Neubiberg

Oberseminar "Elektrophysik und Physikalische Elektronik"

Veranstalter
Lehrstuhl für Technische Elektrophysik der TUM

Ansprechpartner
Tülay Cakmak Tel. 089-289-23121


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