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Technical University of Munich

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Sitemap > Veranstaltungen und Termine > "Multi-bit upset in 65nm CMOS SRAMs durch ionisierende Strahlung"

 Vortrag

"Multi-bit upset in 65nm CMOS SRAMs durch ionisierende Strahlung"

Monday 28.06.2010, 09:15 - 11:30



Venue:

Lehrstuhl für Technische Elektrophysik, Theresienstr. 90, Geb. N4, Raum N 1414, TUM Nordgelände 

Speaker
Dr. Georg Georgakos, Infineon Technologies AG, Neubiberg

Oberseminar "Elektrophysik und Physikalische Elektronik"

Organizer
Lehrstuhl für Technische Elektrophysik der TUM

Contact
Tülay Cakmak Tel. 089-289-23121


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