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Vortrag
In situ Studies of Stacking Fault Formation in Silicon Carbide by Optical Imaging Spectroscopy
Monday 17.11.2008, 09:15 - 11:00
Venue:
TUM Lehrstuhl für Technische Elektrophysik , Theresienstr. 90, Geb. N4, Raum N1414
Speaker
Dr. Augustinas Galeckas, Center for Materials Science and Nanotechnology, University of Oslo, Norway
Vortrag im Rahmen des Oberseminars "Elektrophysik und Physikalische Elektronik"
Organizer
Lehrstuhl für Technische Elektrophysik
Contact
Dipl.-Phys. Ulla Knipper
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